報告書番号

Q04009

タイトル（和文）

SPring-8を用いた微量な物質の化学形態の解明（その２） -多素子SDD検出器を適用した放射光XAFS分析法の開発-

タイトル（英文）

Analysis of Trace Metal Element and Chemical Form by SPring-8－ X-ray Absorption Fine Structure Analysis using New Multi-channels SDD Device－

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

当所では、SPring-8を利用したX線吸収端微細構造(XAFS)分析 を適用することで、多様な化合物が複雑に混在する固体試料に含まれる微量な物質の化学形態を特定する技術を開発した。しかしながら、さらに低濃度の物質系や溶液系の化学形態の特定に適用する場合、より高感度な検出器と計測技術の開発が不可欠なことが明らかになった。本研究では、新たに導入したシリコンドリフト検出器(SDD) の高いX線計数特性を明らかにするとともに、溶液中に含まれる希薄な金属イオン種の化学形態の解明手法としての可能性を明らかにする。従来型の半導体検出器に比べて計数効率が高いSDD、多素子SDD検出器を使用するとにより、溶液中に含まれる10mg/kg程度のセレンのXAFS分析が可能になった。また、解析の結果、セレンの化学形態の特定、セレン元素周囲の局所的な構造の究明が可能になった。

概要 （英文）

SPring-8 is the world's largest synchrotron radiation facility and its ultra-brilliant X-ray source is applicable to the analysis of the material n the wide technology field of material science and applied engineering etc. X-ray absorption fine structure (XAFS) spectroscopy was used to determine chemical form of trace metal element including the complicated mixture system such as coal and coal ash. In this study, we examined SDD and new multi-channels SDD device, and characterized the chemical form of metal element in dilute solution using the XAFS measurement and obtained the following result. (1)It made clear the application possibility of new SDD and multi-channels SDD device to determine chemical form of selenium ion including the standard dilute solution. (2)In this way, the evaluation of chemical form and moleculer structure of dilute selenium ion became possible by the application of XAFS method using SDD devise.

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