電力中央研究所 報告書(電力中央研究所報告)
報告書データベース 詳細情報
報告書番号
684011
タイトル(和文)
屋外形大容量合成短絡試験設備の開発
タイトル(英文)
DEVELOPMENT OF THE OUTDOOR-TYPE LARGE CAPACITY SYNTHETIC SHORT-CIRCUIT TESTING FACILITIES
概要 (図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております)
本報告書は,現有短絡設備の大幅な機能増強によって,ほとんどすべての超高圧大容量遮断器の短絡試験を可能とすること,ならびに各種電力施設の広範な耐アーク特性を把握することを目標として開発した,屋外形大容量合成短絡試験設備の規模,特長および実施例について述べたものである。1.定格電圧300kV,短絡電流63kA級の遮断器の試験が可能であり,現有直接試験容量を18倍高めることができた,これは,屋外形設備としては世界最大級である。2.屋外形の採用,装置類の合理的設計ならびに最新技術の導入などにより,従来の方式に比べてコストの半減に成功した。3.充電方式は,新らしい多段式倍電圧方式を取り入れ,電圧分担の均等化および放電ギャップ制御の安定化を図った。4.制御および測定は,マイク
概要 (英文)
THIS REPORT DESCRIBES ON OUTLINE OF THE NEW OUTDOOR-TYPE LARGE CAPACITY SYNTHETIC SHORT-CIRCUIT TESTING FACILITIES DEVELOPED TO INCREASE FUNCTIONS OF THE EXISTING DIRECT SHORT-CIRCUIT TESTING, FOR THE SHORT-CIRCUIT TSETS OF THE ALL EXTRA-HIGH VOLTAGE LARGE CAPACITY CIRCUIT-BREAKERS AND THE ARC-PROOF TESTS OF THE POWER EQUIPMENTS. 1. THESE FACILITIES ARE LAGEST IN THE WORLD AS FOR THE OUTDOOR-TYPEFOR THE CIRCUIT-BREAKERS OF RATED VOLTAGE 300KV AND SHORT-CIRCUIT CURRENT ABOUT 63KA, HAVING APPROXIMATELY EIGHTEEN TIMES THE DIRECT TESTING CAPACITY. 2. THE COAT OF THE FACILITIES COULD BE REDUCED APPROXIMATELY BY HALF IN COMPARISON WITH TRADITIONAL CONCEPTS, BY ADOPTIONG OUTDOOR-TYPE, MAKING RATIONAL DESIGN AND INTRODUCTING NEWEST TECHNIQUE. 3. A NEWMULTIPLE-VOLTAGE DOUBLER METHOD ACHIEVED BOTH TO EQUALIZE THE PARTIAL VOLTAGE OF CHARGED CONDENSER AND STABILZE THE CONTROL FUNCTION OF THE DISCHARGING GAP. 4. OPTICAL TRANSMISSION SYSTEM WAS INTRODUCED FOR THE CONTROL AND MEASUREMENT TO TAKE ACCURACY IN MICRO-SECOND AND COUNTERMEASURE OF SEVERE TRESPASS NOISES. 5. AN OUTLOOK OF PRACTICAL APPLICATION OF THREE-PHASE ARC-PROLONG EQUIPMENTS WAS OBTAINED FOR FITTING THE TESTING OF THREE-PHASE GAS INSULATED SWITCHING DEVICE COMING RAPIDLY IN USE.6. ALREADY, SYNTHETIC SHORT-CIRCUIT TESTS OF A EXTRA HIGH VOLTAGE CIRCUIT-BREAKER AND SIMULATING TESTS OF LIGHTNING SURGE CURRENT WERE CARRIED OUT IN SUCCESS.
報告書年度
1984
発行年月
1985/05/01
報告者
担当 | 氏名 | 所属 |
---|---|---|
主 |
葛間 泰邦 |
武山試験研究センター試験研究部大電流研究室 |
共 |
泉 邦和 |
武山試験研究センター試験研究部大電流研究室 |
共 |
植村 哲夫 |
武山試験研究センター試験研究部大電流研究室 |
キーワード
和文 | 英文 |
---|---|
合成試験 | SYNTHETIC TESTING |
大電流技術 | HEAVY CURRENT TECHNIQUE |
しゃ断器 | CIRCUIT-BREAKER |
短絡試験 | SHORT-CIRCUIT TESTING |