報告書番号

185001

タイトル（和文）

静電プローブによる誘電体表面電荷量の測定法

タイトル（英文）

MEASUREMENT OF CHARGE DENSITY ON DIELECTRIC SURFACE BY ELECTROSTATIC PROBE

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

本報告は，静電プローブを用いた誘電体表面電荷量の測定に関して，測定値から電荷量の真値を得るための較正法を実測及び数値電界計算により検討したものである。これより，厚さ数ｍｍの薄板状試料に対しては，簡便な較正式を適用して，実用上問題のない精度で真電荷量を求めることができるが，厚板状試料やガス絶縁開閉機器に使用されるスペーサに対しては，この手法では大きな誤差を生じることが判明した。この場合は，多数点の測定値から，数値電界計算を援用して真電荷量を求める必要があり，その手法を示した。

概要 （英文）

ELECTROSTATIC PROBE IS GENERALLY APPLIED FORMEASUREMENT OF SURFACE CHARGE DENSITY ON A DIELECTRIC. HOWEVER, THE CORRESPONDENCE BETWEEN PROBE RESPONSE AND REAL CHARGE DENSITY IS NOT CLEAR. IN THIS REPORT, CALIBRATION METHODS TO OBTAIN REAL VALUE OF CHARGE DENSITY FROM MEASURED VALUE ARE DISCUSSED EXPERIMENTALLY AND ANALYTICALLY. AS THE RESULTS, FOLLOWING POINTS ARE CLARIFIED: (1)FOR THIN DIELECTRIC SPECIMENS(THICKNESS IS LESS THAN SEVERAL MILLIMETERS), A SIMPLE ANALYTICAL METHOD IS AVAILABLE. (2)FOR THICKER SPECIMENS OR SPACERS USED INGAS INSULATED EQUIPMENT, A SIGNIFICANT ERROR CAN BE CAUSED IN EVALUATION OF REAL CHARGE DENSITY. (3)IN THE LATTER CASE, A COMPLICATED METHOD USING MEASURED VALUES ON THE ALL LATTICE POINTS OVER THE WHOLE SURFACE AND NUMERICAL ELECTRIC FIELD CALCULATION MUST BE REQUIRED.

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