報告書番号

182003

タイトル（和文）

ＣＶケーブルのトリーイング劣化－絶縁体に囲まれたボイドからの電気トリ－

タイトル（英文）

TREEING BREAKDOWN IN CROSSLINKED POLYETHYLENE FOR POWER CABLE INSULATION

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

直径１００～２００μｍのボイドを有する厚さ５００μｍ程度のポリエチレンシートを用い，種々の部分放電特性を明確にし，有害ボイドの限界について検討を行ない以下の様な結果を得た。（１）部分放電開始に対するＸ線照射の影響を検討し，部分放電開始遅れ時間ｔｒの印加電界強度Ｅｅｘ及びボイド半径ｒａに対する依存性を明確にした。（２）電気トリーが発生するために必要な深さのピットが成長するまでの時間ｔｃのＥｅｘ及びｒａに対する依存性をポリエチレンの熱分解によるピット成長モデルを用いて計算し，実験データを説明し得ることを示した。（３）ボイドからトリーが発生・進展して絶縁破壊に至るまでの時間ｔｂをｔｒ，ｔｃそれにトリー進展時間ｔｐの和として求めｔｂとＥｅｘ及びｒａの関係を求めた。

概要 （英文）

THIS PAPER DESCRIBES THE CRITERION SIZE OF HARMFUL VOID DEFECTS IN CROSSLINKED POLYETHYLENE AS POWER CABLE INSULATION. EXPRIMENTS ARE CARRIED OUT ON A QUASI-SPHERICAL VOID(100-200 MU M IN DIAMETER)IN A POLYETHYLENE SHEET OF 500 MU M THICKNESS.THE FOLLOWING RESULTS ARE OBTAINED: (1)THE DEPENDENCE OF THE DELAYED TIME TRON THE APPLIED ELECTRIC FIELD STRENGTH EEX AND THE VOID RADIUS RA IS ANALYZED ONTHE BASIS OF XRAY IRRADIATION EXPERIMENTS. (2)A MODEL MECHANISM FOR PIT GROWTH AT AVOID SURFACE IS PROPOSED AND THE MODEL CAN EXPLAIN THE DEPENDENCE OF THE PIT GROWTH TIME TC ON EEX AND RA. (3)THE CRITICAL VOID RADIUS RA CAN BE DEFINED BY THE BREAKDOWN TIME TB WHICH IS THE SUMMATIONOF TR,TC AND TREEING PROPAGATION TIME TP. (4)THE DEPENDENCE OF TB ON EEX,RA AND THE POSITION FROM A SEMICONDUCTIVE LAYER IN A CABLE STRUCTUREIS ALSO ESTIMATED.

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